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1.單模光纖模場直徑的測量

　　 從理論上講單模光纖中只有基模(LP0l)傳輸，基模場強在光纖橫截面的存在與光纖的結構有關，而模場直徑就是衡量光纖模截面上一定場強范圍的物理量。對于均勻單模光纖，基模場強在光纖橫截面上近似為高斯分布，通常將纖芯中場強分布曲線最大值1／e處所對應的寬度定義為模場直徑。簡單說來它是描述光纖中光功率沿光纖半徑的分布狀態，或者說是描述光纖所傳輸的光能的集中程度的參量。因此測量單模光纖模場直徑的核心就是要測出這種分布。

　　 測量單模光纖模場直徑的方法有：橫向位移法和傳輸功率法。下面介紹傳輸功率法。測量系統的原理方框示意如圖1所示。

　　 取一段2米長的被測光纖，將端面處理后放入測量系統中，測量系統主要由光源和角度可以轉動的光電檢測器構成。光纖的輸入端應與光源對準。另外為了保證只測主模(LP01)而沒有高次模，在系統中加了一只濾模器，最簡單的辦法是將光纖打一個直徑60mm的小圓圈。當光源所發的光通過被測光纖，在光纖末端得到遠場輻射圖，用檢測器沿極坐標作測量，即可測得輸出光功率與掃描角度間的關系，P—θ線如圖2所示。然后，按模場直徑的定義公式輸入P和θ值，由計算機按計算程序算出模場直徑。

　　 2.光纖損耗的測量

　　 光纖損耗是光纖的一個重要傳輸參數。由于光纖有衰減，光纖中光功率隨距離是按指數的規律減小的。但是，對于單模光纖或近似穩態的模式分布的多模光纖衰減系數a是一個與位置無關的常數。若設P(Z1)為Z＝Z1處的光功率，即輸入光功率。若設P(Z2)為Z2處的光功率，即這段光纖的輸出功率。因此，光纖的衰減系數a定義為

　　 因此，只要知道了光纖長度Z2-Z1和Z2、Z1處的光功率P(Z1)、P(Z2)，就可算出這段光纖的衰減系數a。測量光纖的損耗有很多種辦法，下面只介紹其中的兩種辦法。

　　 1)截斷法
　　 截斷法是一種測量精度最好的辦法，但是其缺點是要截斷光纖。這種測量方法的測量方框如圖3所示。

　　 取一條被測的長光纖接入測量系統中，并在圖中的“2”點位置用光功率計測出該點的光功率P(Z2)。然后，保持光源的輸入狀態不變，在被測量光纖靠近輸入端處“1”點將光纖截斷，測量“l”點處的光功率P(Z1)。這個測量過程等于測了1～2兩點間這段光纖的輸入光功率P(Z1)和輸出光功率P(Z2)，又知道“1”、“2”點間的距離Z2-2l，因此，將這些值代入

　　 即可算出這段光纖的平均衰減系數。

　　 在測量方框圖中斬波器(又稱截光器)是一種能周期斷續光束的器件。例如是一個有徑向開縫的轉盤。它將直流光信號變為交變光信號，作為參考光信號送到鎖相放大器中，與通過了被測光纖的光信號鎖定，以克服直流漂移和暗電流等影響，以確保測量精度。

　　 2)背向散射法
　　 測量原理。用背向散射法測量光纖損耗的原理與雷達探測目標的原理相似。在被測光纖的輸入端射入一個強的光脈沖，這個光窄脈沖在光纖內傳輸時，由于光纖內部的不均勻性將產生瑞利散射(當然遇到光纖的接頭及斷點將產生更強烈的反射)。這種散射光有一部分將沿光纖返回向輸入端傳輸，這種連續不斷向輸入端傳輸散射光稱為背向散射光。從物理概念上看，這種背向散射光就將光纖上各點的“信息”送回了輸入端。靠近輸入端的光波傳輸損耗少，故散射回來的信號就強，離輸入端遠的地方光波傳輸損耗大，散射回來的信號就弱。人們就用這種帶有光纖各點“信息”的背向散射對光纖的損耗等進行測量。這個測量儀器稱為光時域反射儀，簡寫成OTDR(Optical Time Domain Reflectometer)。一條有代表性的測量曲線如圖4所示。

　　 曲線上A、D兩個很強的回波對應于光纖的輸入端面和輸出端面引起的反射。曲線B點對應于一個光纖接頭引起的散射回波。C點可能對應于光纖中的一個氣泡引起的散射回波。怎樣利用光纖的瑞利散射對光纖進行測量，是關于從定量的角度進行討論。由于現在利用OTDR機器對光纖鏈路的損耗進行測量時，能直觀、直接從OTDR機器內讀出所需數據，所以這里不作定量討論。

　　 光時域反射儀原理方框圖，如圖5所示。這種儀表的工作原理是：首先用脈沖發生器調制一個光源使光源產生窄脈沖光波，經光學系統耦入光纖。光波在光纖中傳輸時出現散射，散射光沿光纖返回，途中經過光纖定向耦合器輸入光電檢測器，經光電檢測器變為電信號，再經放大及信號處理送入顯示器。其中對信號處理的原因是，背向散射光非常微弱，淹沒在一片噪聲中，因此，要用取樣積分器積分，在一定時間間隔對微弱的散射信號取樣并求和。在這過程中，由于噪聲是隨機的，在求和時抵消掉了，從而將散射信號取了出來。用OTDR除了可以測量光纖的損耗以外，還可以觀察光纖沿線的損耗情況，以及某損耗突然變化點的裝置，光纖接頭的插入損耗等。OTDR還有一個工程上的重大用處，能夠方便地找出光纖的斷點。現在用OTDR測量光纖損耗是最常用的一種方法。優點是測量非破壞性，功能多，使用方便。但是，在使用時始終有一段盲區。另外用OTDR從光纖兩端測出的衰減值有差別，通常取平均值。

　　 3.光纖色散與寬帶的測量

　　 光纖的色散特性是影響光纖通信傳輸容量和中繼距離的一個重要因素。在數據信號通信中，如色散大，光脈沖展寬就嚴重，在接收端就可能因脈沖展寬而出現相鄰脈沖的重疊，從而出現誤碼。為了避免出現這種情況，只好使碼元間隔加大，或使傳輸距離縮短。顯然這就使得傳輸容量降低，中繼局距離變短，這是人們所不希望的。在模擬傳輸中，同樣由于色散大，不同頻率的模擬光信號頻譜不相同，在接收端就會使模擬信號出現嚴重失真。同樣為了避免出現這種情況，只好使傳輸模擬帶寬下降，或傳輸距離縮短，這是人們所不希望的。為此，高碼率、寬帶寬模擬信號的光纖通信系統中對光纖的色散就要認真考慮。如同前面所述，因為光纖色散造成光脈沖的波形展寬，這是從時域觀點分析的情況，若是從頻域角度來看，光纖有色散就表示光纖是有一定傳輸帶寬的。因此脈沖展寬和帶寬是從不同角度描述光纖傳輸特性的兩個緊密聯系的參量。

　　 從測量方法上與此對應也有兩種方法。一種是從時域角度來測量光脈沖的展寬；另一種是從頻域角度來測量光纖的基帶寬度。

　　 1)用時域方法來測量脈沖展寬
　　 測量原理。首先為了使問題還不至于復雜，假設輸入光纖和從光纖輸出的光脈沖波形都近似成高斯分布的如圖6所示。圖6(a)是光纖輸出光功率Pin(t)的波形圖，從最大值A1降到A1/2時的寬度為Δτ1。圖6（b)是光纖的輸出光功率Pout(t)的波形圖，其幅度降為一半時的寬度為Δτ2可以證明，脈沖通過光纖后的展寬Δτ與其輸入、輸出波形寬度Δτ1和Δτ2的關系為:
(1-1)
　　 由此可見，Δτ不是Δτ2與Δτ1的簡單相減的關系。所以，只要將測出來的Δτ1和Δτ2代入上式即可以算出脈沖展寬Δτ。求出Δτ以后，再根據脈沖的展寬Δτ和相應的帶寬B間的公式
B＝0.44／Δτ (1-2)
　　 將Δτ代入式中可求出相應的光纖每公里帶寬。若Δτ的單位用ns，則B的單位是MHz。

　　 測量方框圖。用時域法測量光纖的脈沖展寬(進而計算出光纖帶寬的方框圖如圖7所示)

　　 首先用一臺脈沖信號發生器去調制一個激光器。從激光器輸出的光信號通過分光鏡分為兩路。一路進入被測光纖(由于色散作用，這一路的光脈沖信號被展寬)，經光纖傳輸到達光電檢測器1和接收機1，送入雙蹤取樣示波器并顯示出來，這個波形相當于前面講的Pout(t)。另一路，不經過被測光纖，通過反射鏡直接進入光檢測器2和接收機器2，然后也被送入雙蹤示波器顯示出來。由于這個波形沒有經過被檢測光纖，故相當于被測光纖輸入信號的波形，即相當于Pin(t)。從顯示出的脈沖波形上分別測得Pin(t)的寬度Δτ1和Pout(t)的寬度Δτ2。這樣就可將Δτ1和Δτ2代入式(1-1)及(1-2)最終算出帶寬B。最后還應該指出，用這種方法測量單模光纖比較困難，因為其Δτ太小。

　　 2)用頻域法測量光纖帶寬
　　 頻域法測量，就是用一個掃頻振蕩器產生的頻率連續變化的正弦信號去調制激光器，從而研究光纖對于不同的頻率，來調制的光信號的傳輸能力。具體的說，就是要設法測出光纖傳輸己調制光波的頻率響應特性。得到了頻率響應特性后，即可按一般方法求出光纖的帶寬。

　　 設Pin(f)為輸入被測光纖的光功率與調制頻率f間的關系。Pout(f)為被測光纖輸出的光功率與調制頻率f關系。則被測光纖的頻率響應特性H(f)為H(f)＝Pout(f)／Pin(f)，若以半功率點來確定光纖的帶寬fc即10lgH(f)=10lg[Pout(f)/Pin(f)]＝10lg1／2＝-3dB。fc稱為光纖的3dB光帶寬。用頻域法測量光纖帶寬的方框圖如9所示：

　　 由于測量光纖的頻率響應特性，需要測出輸入光纖的光功率特性和從光纖輸出的光功率特性，即需要得到兩個信號，故在圖9中用一條短光纖的輸出光功率來代替被測光纖的輸入光功率。在圖9中，由掃頻信號發生器輸出一個頻率連續可調的正弦信號。利用這個信號去對激光器的光信號進行強度調制，然后將這個已調光信號耦合入光開關，由光開關依次送出兩路信號，一路光信號進入短光纖，經短光纖后面過光電檢測器送入頻譜分析儀。用短光纖的輸出信號來代替被測光纖的輸入信號(由于光纖短，經過傳輸后信號變化很小，故可以認為即是輸入信號)。另一路光信號是經過光開關送入被測光纖，由連續的正弦波調制的光信號經過光纖傳輸，攜帶了被測光纖對不同調制頻率光信號的反應，從光纖輸出，經光電檢測器送入頻譜分析儀。這樣頻譜分析儀中就得到了被測光纖的輸入和輸出兩種光信號，因此，就可得到被測光纖的頻率響應，從而可測出光纖的帶寬。